MIZ-80iD集成渦流檢測系統(tǒng)

多合一套裝：將渦流儀器、探頭驅(qū)動(dòng)器、電源和MRPC控制器整合到一個(gè)模塊方案中，可快速分解為便于攜帶和備用的三個(gè)子系統(tǒng)，大大縮小了系統(tǒng)設(shè)置時(shí)間，電氣部分通過一根以太網(wǎng)線連接到主機(jī)采集系統(tǒng)，集成化的采集系統(tǒng)排除了對探頭擴(kuò)展、探頭適配器、模擬集電環(huán)和參考探頭的需要，而且改進(jìn)了數(shù)據(jù)質(zhì)量和抗噪聲能力，內(nèi)部自動(dòng)采集序列（AAS）提供了自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測
電源：100~240VAC，50~60Hz﹔操作溫度0~45℃，存放溫度-20~+60℃﹔符合歐盟標(biāo)準(zhǔn)
渦流設(shè)備：重量：3.18kg﹔頻率范圍：20Hz~1MHz﹔驅(qū)動(dòng)：0~20Vpp﹔支持探頭技朮：陣列探頭，Bobbin探頭，MRPC（r）﹔通道功能：40個(gè)連續(xù)模式，512多路復(fù)用，640超多路復(fù)用﹔增益：23~53dB，1dB步進(jìn)，可調(diào)節(jié)﹔數(shù)字化率：100Hz~40000Hz（根據(jù)設(shè)置）﹔
接收磁帶盤：重量：18.2kg﹔尺寸：53.3x45.7x28.0cm﹔輸入/輸出：以太網(wǎng)10/100Base T﹔
推進(jìn)器驅(qū)動(dòng)：重量：19.9kg﹔尺寸：45x28x28cm﹔探頭速度：X-probe 101cm/s，Bobbin 241cm/s，MRPC+Point 5cm/s﹔

X-Probe探頭

集合Bobbin和陣列技朮，檢測時(shí)間更短，更換探頭更少，人力使用更少，產(chǎn)生的輻射更少，實(shí)現(xiàn)“一次掃過”檢測

雙向發(fā)射/接收陣列傳感器技朮，非表面支托模塊，EPRI蒸汽發(fā)生器認(rèn)証，附件H技朮

ENS的增強(qiáng)型3D C掃描顯示的高分辨率彩色刻度和數(shù)據(jù)增強(qiáng)算法簡化和確保了數(shù)據(jù)分析

適用于檢測管板、管板頂、完整長度管，包括U型彎曲

探頭構(gòu)建：

線圈技朮：發(fā)射/接收陣列（2x8，2x12，2x14，2x16，2x19）和bobbin（差動(dòng)磁偏標(biāo)準(zhǔn)）﹔操作頻率：50~800kHz﹔Poly長度：50’，83’，110’﹔Poly材料：3/8”類T﹔具有的尺寸范圍：.350"，.380"，.480"，.510"，.540"，.610"，.710"，.720"﹔

探頭性能：

儀器兼容性：Zetec TC7700，Zetec MIZ-80iD﹔校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)：擴(kuò)充，30%螺旋凹槽，30%深外徑同心凹槽和模擬管子支持﹔檢測速度：40英寸/秒（100cm/s）﹔U型彎曲半徑：標(biāo)準(zhǔn)探頭25cm，低row探頭6.4cm﹔探測和區(qū)分：松散工件，磨蝕，蝕損，折皮，軸向和環(huán)向裂紋，IGA（內(nèi)顆?；瘜W(xué)浸濕）﹔特征化：軸向和環(huán)向裂紋，體積點(diǎn)蝕和表面磨蝕，內(nèi)徑和外徑變化，壓痕，磨損，減薄和點(diǎn)蝕﹔定量能力：表面磨蝕，點(diǎn)蝕，裂紋，量綱輪廓測定法，和管子支持剝蝕﹔

管子材料：任何非鐵磁性材料，目前的經(jīng)驗(yàn)：Inconel-600，Inconel-800，Inconel-690，Monel-400，黃銅，和300系列不銹鋼

認(rèn)証：多個(gè)EPRI S/G指導(dǎo)，附件H技朮