OmniScanMXECA渦流探傷儀

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關(guān)鍵詞：渦流探傷進(jìn)口渦流探傷渦流檢測(cè) 無損探傷

OmniScanMXECA渦流探傷儀

渦流陣列檢測(cè)
渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅(qū)動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線圈，并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號(hào)。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù)，可避免不同線圈之間的互感。
OmniScan? ECA檢測(cè)配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個(gè)感應(yīng)線圈（使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達(dá)64個(gè)）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的優(yōu)勢(shì)
同單通道渦流技術(shù)相比，渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢(shì)：
?檢測(cè)時(shí)間大幅度降低。
?單次掃查覆蓋更大檢測(cè)區(qū)域。
?減小了機(jī)械和自動(dòng)掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。
?提供檢測(cè)區(qū)域?qū)崟r(shí)圖像，便于數(shù)據(jù)的判讀。
?***地適用于對(duì)那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測(cè)。
?改進(jìn)了檢測(cè)的可靠性和檢出率（POD）。
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech? ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測(cè)工件的形狀，可以設(shè)計(jì)出不同的探頭。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測(cè)如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷，以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
渦流陣列軟件
簡單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示
?C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集，可快速有效地檢測(cè)缺陷。
?分析模式下的數(shù)據(jù)選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號(hào)。
?波幅、相位和位置測(cè)量。
?可調(diào)彩色調(diào)色板。
?大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規(guī)單通道ECT探頭檢測(cè)相適應(yīng)。
校準(zhǔn)向?qū)?br /> ?分步進(jìn)行。
?一組中的所有通道可被同時(shí)校準(zhǔn)，每個(gè)通道各有自己的增益和旋轉(zhuǎn)。
?波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設(shè)定。
報(bào)警
?３個(gè)報(bào)警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。
?可以在阻抗圖中定義不同的報(bào)警區(qū)形狀（扇形、長方形、環(huán)形等）。
自動(dòng)探頭識(shí)別和配置
?探頭被連接后，C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動(dòng)設(shè)置。
?頻率范圍保護(hù)可避免損壞探頭。
分析模式下的求差工具
該功能可去除在相鄰?fù)ǖ篱g的提離變化。
***實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理
?實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)插值可以改進(jìn)缺陷的空間顯示。
?使用兩個(gè)頻率，可生成一個(gè)MIX信號(hào)，以去除干擾信號(hào)（如：提離、緊固件信號(hào)等）。
?數(shù)據(jù)處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個(gè)應(yīng)用實(shí)例：在搭接處邊緣檢測(cè)出裂紋，因?yàn)樵撎幒穸瘸霈F(xiàn)急劇的變化。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進(jìn)檢測(cè)效果，特別是對(duì)小裂紋而言。